手(shou)搖(yao)立式(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)臺(tai)0-50公斤(jin) 100公斤(jin):上(shang)海恒剛(gang)廠(chang)家(jia)的SGCY型(xing)手(shou)搖(yao)立式(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)臺(tai)專為SGHF系(xi)列和SGNK系(xi)列推(tui)拉(la)力(li)計配備,可(ke)組合(he)成(cheng)不(bu)(bu)同用(yong)途的試(shi)(shi)驗機臺(tai),適用(yong)各種(zhong)插拔力(li)、按壓力(li)、破壞試(shi)(shi)驗等測(ce)(ce)試(shi)(shi)。在顯示力(li)值的同時,還可(ke)以(yi)加(jia)裝數顯標(biao)尺,顯示其位移量,對(dui)不(bu)(bu)同工件(jian)進行相同位移量下的對(dui)比測(ce)(ce)試(shi)(shi)。
查看詳細介紹手動螺旋(xuan)(xuan)拉(la)力(li)(li)(li)測試(shi)(shi)機(ji)架(jia)0-50KG:上海恒剛廠家的(de)SGCY型(xing)0-50KG手動螺旋(xuan)(xuan)拉(la)力(li)(li)(li)測試(shi)(shi)機(ji)架(jia)專為SGHF系列和(he)SGNK系列推(tui)拉(la)力(li)(li)(li)計(ji)配(pei)備,可組合成不同(tong)(tong)用途的(de)試(shi)(shi)驗機(ji)臺,適用各種插拔力(li)(li)(li)、按壓力(li)(li)(li)、破壞試(shi)(shi)驗等測試(shi)(shi)。在(zai)顯示(shi)力(li)(li)(li)值的(de)同(tong)(tong)時,還(huan)可以加(jia)裝數顯標尺,顯示(shi)其位(wei)移量,對不同(tong)(tong)工件進行相同(tong)(tong)位(wei)移量下的(de)對比測試(shi)(shi)。
查看詳細介紹手揺(yao)螺旋測試(shi)(shi)機0-500N:上(shang)海恒剛(gang)廠家的SGCY型0-500N手揺(yao)螺旋測試(shi)(shi)機專為SGHF系(xi)列(lie)和SGNK系(xi)列(lie)推拉(la)力(li)(li)計配備,可組合(he)成不(bu)同(tong)用途的試(shi)(shi)驗(yan)機臺,適(shi)用各(ge)種(zhong)插拔力(li)(li)、按壓力(li)(li)、破壞試(shi)(shi)驗(yan)等(deng)測試(shi)(shi)。在顯示力(li)(li)值的同(tong)時,還可以(yi)加裝數顯標尺,顯示其位(wei)移(yi)量,對(dui)(dui)不(bu)同(tong)工件進行(xing)相同(tong)位(wei)移(yi)量下的對(dui)(dui)比(bi)測試(shi)(shi)。
查看詳細介紹成都臥式螺(luo)(luo)旋(xuan)機架/螺(luo)(luo)旋(xuan)立臥兩(liang)用(yong)(yong)測試機架: 上(shang)海恒剛廠家的(de)(de)(de)系列的(de)(de)(de)臥式螺(luo)(luo)旋(xuan)機架專(zhuan)為SGHF系列和SGNK系列推拉力(li)計配備,可(ke)組合成不(bu)同(tong)(tong)用(yong)(yong)途(tu)的(de)(de)(de)試驗機臺,進行(xing)準確的(de)(de)(de)插拔力(li)、按壓力(li)、有(you)破壞性實(shi)驗等測試,在(zai)顯示力(li)值的(de)(de)(de)同(tong)(tong)時,還可(ke)以加(jia)裝標尺顯示其位移(yi)量,對不(bu)同(tong)(tong)工件進行(xing)相同(tong)(tong)位移(yi)量下的(de)(de)(de)對比測試。
查看詳細介紹手(shou)搖螺桿測(ce)(ce)試(shi)臺(tai)SGCY-500生(sheng)產(chan)商:上海恒(heng)剛廠家(jia)的(de)SGCY型手(shou)搖螺桿測(ce)(ce)試(shi)臺(tai)專(zhuan)為SGHF系列(lie)和SGNK系列(lie)推拉(la)力計(ji)配(pei)備,可組合成不同用(yong)途的(de)試(shi)驗機(ji)臺(tai),適用(yong)各種插拔力、按壓力、破壞試(shi)驗等測(ce)(ce)試(shi)。在顯示(shi)力值的(de)同時,還可以加裝數顯標尺,顯示(shi)其(qi)位移量,對不同工件進行相同位移量下的(de)對比(bi)測(ce)(ce)試(shi)。
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